1.探測(cè)器
*探測(cè)器:分析型SDD硅漂移電制冷探測(cè)器,晶體有效面積110mm2,晶體活區(qū)面積80mm2。
*能量分辨率:MnKa保證優(yōu)于127eV, 元素分析范圍: Be4~Cf98
*圓形對(duì)稱芯片,獨(dú)立封裝FET場(chǎng)效應(yīng)管,避免X射線轟擊
*譜峰穩(wěn)定性:1,000cps到100,000cps,MnKa峰譜峰漂移小于1eV,分辨率變化小于1eV, 48小時(shí)內(nèi)峰位漂移小于1.5eV
*探測(cè)器自動(dòng)伸縮,精確定位,無(wú)需手搖
2.顯微分析處理器
*能譜儀圖像處理器及脈沖處理器均與計(jì)算機(jī)采用分立式設(shè)計(jì),電子圖像清晰度8192*8192,全譜面分布圖清晰度4096*4096
*圖像灰度、對(duì)比度自動(dòng)調(diào)節(jié),二次電子像及背散射像可同時(shí)采集
3.軟件
*軟件為最新的AZtec平臺(tái),基于Win7 技術(shù),多線程設(shè)計(jì),導(dǎo)航器界面, 支持用戶自定義模式及賬戶管理,支持分屏顯示及遠(yuǎn)程控制,支持中、英文等多種操作界面
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