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轉(zhuǎn)讓美國FEI 掃描電鏡Helios 5 CX DualBeam

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聯(lián)系人: 李明陽 未實(shí)名 [ 商家 ]

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描述:

美國FEI 掃描電鏡Helios 5 CX DualBeam

DualBeamTM 技術(shù)的突破性創(chuàng)新 – 更快速、更簡單

Helios 5 CX DualBeam 結(jié)合Thermo Scientific?AutoTEM? 5 軟件,實(shí)現(xiàn)全自動原位 TEM 制樣。幫助不同經(jīng)驗(yàn)水平用戶獲取高質(zhì)量結(jié)果,制樣無需值守從而顯著提高工作效率。

使用Helios 5 CX DualBeam 系統(tǒng)和 AS&V4 軟件制備樣品表面用于三維數(shù)據(jù)采集。

主要優(yōu)勢

。Tomahawk HT 離子鏡筒實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量、定點(diǎn) TEM 和 APT 制樣

??蛇x AutoTEM 5 軟件,實(shí)現(xiàn)快、簡單、全自動、無人值守、多點(diǎn)原位和非原位TEM樣品制備和橫截面加工

。佳 Elstar 電子鏡筒搭載 SmartAlign 和 FLASH 技術(shù),可為任何經(jīng)驗(yàn)水平的用戶在短時間內(nèi)獲取納米尺度信息

。多達(dá) 6 個集成化鏡筒內(nèi)及透鏡下探測器,采集優(yōu)質(zhì)、銳利、無荷電圖像,提供完整的樣品信息

。可選 AS&V4 軟件,精確定位感興趣區(qū)域,獲取高質(zhì)量、多模態(tài)內(nèi)部和三維信息

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