Agilent 4287A 供應(yīng) 1MHz~3GHz
歐陽R:13537;;;229325
1MHz~3GHz,以100KHz分檔
·阻抗測(cè)量范圍寬,從200mΩ到3KΩ
·在低測(cè)度信號(hào)電平上具有優(yōu)良的測(cè)量重復(fù)性
·基本精度為1%
·高速測(cè)量9ms
Agilent4287A射頻測(cè)試儀
Agilent4287A射頻測(cè)試儀LCR在1MHz~3GHz頻率范圍可以提供精 ,可靠和快速測(cè)量,以改進(jìn)生產(chǎn)線上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反向測(cè)量技術(shù)不同,采用直流電壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行精 測(cè)量。
生產(chǎn)率高,質(zhì)量可靠
4287A適于在射頻范圍對(duì)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。4287A的測(cè)量非?？?。此外,在小測(cè)試電流(100μA)優(yōu)良的測(cè)試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率,因?yàn)樗璧娜∑骄^程非常短。
系統(tǒng)組建簡單
測(cè)試頭電纜(1m或利用延伸電纜時(shí)為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測(cè)件點(diǎn)測(cè)件接點(diǎn)附近,而不會(huì)使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能,高速GPIB處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機(jī)的組合。增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測(cè)試。
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