轉(zhuǎn)讓二手日本電子JOEL透射電子顯微鏡JEM-2100F

描述：

J E M-2100 F 是日本電子生產(chǎn)的一款場發(fā)射高分辨透射電子顯微鏡,其工作電壓是 200 K V,點分辨率 0.23 n m,線分辨率 0.10 n m,附帶有 STEM 探頭和 E D AX E Lite 能譜儀,廣泛應(yīng)用于材料納米尺度的顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和元素組成研究。

此貼長期有效，聯(lián)系我時，請說明是從處理網(wǎng)看到的。