4286A的測量非常快。此外,在小測 試電流(100μA)處優(yōu)良的測試重復性還可以顯著提高生產(chǎn)率,因為所需的取平均過程 非常短。
系統(tǒng)組建簡單測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近 ,而不會使誤差有任何增大。
增強的比較器功能可以使復雜的倉室適用于多頻或 陣列芯片測試。
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