AQ6317C 回收 AQ6317C 光譜分析儀
歐陽R:13537;;;229325
安藤AQ6317C 光譜分析儀 的是一種先進(jìn)的廣泛應(yīng)用,
AQ6317C是先進(jìn)的光譜分析儀,它應(yīng)用廣泛,適用于光學(xué)儀器中的光源測試、波長損耗特性的測量以及WDM系統(tǒng)的波形分析。
特別對于C波段和L波段,該裝置有很高的波長精度和波長線性特性,并且能對用于WDM的光學(xué)儀器進(jìn)行測評。裝置所提供的分析功能使操作和擴(kuò)充變得簡單。
AQ6317C包含了Ando關(guān)于光譜分析儀的新技術(shù)-是下一代測試的參考設(shè)備。
特點(diǎn):
1、 高波長精度
在600至1750nm全波長范圍內(nèi),精度可達(dá)±0.1nm,在1520-1580nm范圍內(nèi),精度高達(dá)±0.02nm,在1450到1520nm、1580-1620nm范圍,精度高達(dá)±0.04nm。特別適用于WDM器件的高精度波長損耗特性測量。
2、 高波長線性度
±0.01nm(C波段);±0.02nm(S及L波段)
3、 高波長分辨率
波長分辨率可達(dá)15pm甚至更好。
量。
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