轉(zhuǎn)讓二手晶圓缺陷檢測(cè)系統(tǒng)KLA-Tencor 7600 [3圖]

KLA-Tencor 7600光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)是一種用于半導(dǎo)體制造過(guò)程中的光學(xué)檢測(cè)工具。它基于先進(jìn)的光學(xué)技術(shù),可以對(duì)半導(dǎo)體芯片表面進(jìn)行非接觸式、高分辨率的檢測(cè)和分析,以確保產(chǎn)品質(zhì)量和工藝控制的精度。下面是KLA-Tencor 7600光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)的一些主要技術(shù)參數(shù)和特點(diǎn):分辨率:KLA-Tencor 7…

廣東 - 珠海     2023-08-11