在寬阻抗范圍和寬頻率范圍內(nèi)進行精確測量基本阻抗精度 +/- 0.08%40 Hz 至 110 MHz,3 m ohm 500M ohm強大的阻抗分析功能易用性和多功能 PC 連接Keysight Agilent HP 4294A 精密阻抗分析儀是一種集成解決方案,用于對元件和電路進行高效的阻抗測量和…
AQ6375B長波長光譜分析儀技術(shù)指標:波長范圍 1200~2400nm6種波長分辨率設置 50pm~2nm超寬可測功率范圍 -70dBm~+20dBm波長精度 ±0.05nm動態(tài)范圍 55dB快速測量 100nm跨度只需0.5s產(chǎn)品特點:6種波長分辨率設置:50pm~2nm:可以讓用戶根據(jù)DUT特…
橫河憑借著在光測試測量領域擁有的廣泛客戶經(jīng)驗,設計出了世界上可靠性最高且廣泛通用的光波長計。 AQ6150系列具有特定的技術(shù)特點,完全有能力測量光子技術(shù)應用中使用的各種設備和系統(tǒng),可以說是最有效和高成效的光波長測量儀器。橫河AQ6150系列可以滿足光通信行業(yè)研發(fā)以及生產(chǎn)過程中特定的光波長測試測量需求…
N8975A安捷倫噪聲分析儀N8975A 是 Agilent 的二手分析儀。分析儀是測試工程、醫(yī)療、汽車和技術(shù)行業(yè)電子設備的關鍵工具。使用分析儀來監(jiān)控許多不同類型的電子設備的性能。您可能需要分析儀來測量音頻頻譜、電壓和電流、信號和頻率等分量。單盒解決方案中的頻率范圍為 10 MHz 至 26.5 G…
是德N9918A參數(shù)說明KEYSIGHT N9918A手持射頻分析儀?附加的功能:電纜和天線分析儀 (CAT)、矢量網(wǎng)絡分析儀 (VNA)30 kHz 至 26.5 GHz動態(tài)范圍:100 分貝CAT:故障點距離、回波損耗、電纜損耗VNA:S11、S21、S22、S12、幅度和相位頻譜分析儀5 kH…
概述和特性 售后升級 資源全面應對您的挑戰(zhàn):快速靈活的 EXA 能夠憑借單一工具滿足不同的需求為毫米波測量提供經(jīng)濟高效的分析卓越的電平精度、DANL 和 TOI,可以在大信號條件下提供出色的小信號測量能力列表掃描模式可以實現(xiàn)快速的離散頻率點功率測量X 系列測量應用軟件可以簡化測量:相位噪聲、噪聲系數(shù)…
IM3570 Hioki 阻抗分析儀Hioki IM3570 阻抗分析儀,寬帶 4Hz-5Mz,用于高速測試和頻率掃描特征:用于高速測試和掃頻的單設備解決方案Hioki IM3570 阻抗分析儀、LCR 表和阻抗分析儀能夠?qū)?4 Hz 至 5 MHz 的測量頻率和 5 mV 至 5 V 的測試信號電…
安捷倫N5230C網(wǎng)絡分析儀??N5230C 是安捷倫的 50 GHz 網(wǎng)絡分析儀。網(wǎng)絡分析儀是一種功能強大的儀器,可以以無與倫比的精度測量射頻設備的線性特性。許多行業(yè)使用網(wǎng)絡分析儀來測試設備、測量材料和監(jiān)控信號的完整性。附加的功能:300 kHz 至 6/13.5/20 GHz 和 10 MHz …
主要特點頻率范圍為 4/7/13.6/30/40 GHz 160 MHz 信號分析帶寬基于觸摸屏的用戶界面,操作便捷直觀R&S?FSV信號與頻譜分析儀主要特點· 頻率范圍*3.6 GHz / 7 GHz / 13.6GHz / 30GHz?!?40 MHz信號分析帶寬· 7 GHz頻段內(nèi)總電平不確定…
Anritsu MT8852A/MT8852B通信分析儀MT8852A 是 Anritsu 的通信分析儀。通信分析儀是一種用于物理層、電路和新技術(shù)測試的高級電子測試設備。新的電子數(shù)據(jù)交換機測量選項音頻測試能力。3上海合作組織頻道,具有cvSD、U-法律和A-法律航空接口。在5秒內(nèi)測試藍牙無線技術(shù)啟用…
Keysight MSOX3102T 示波器 供應 歐陽R:135,3722,,9325 Keysight MSOX3102T 混合信號示波器:1 GHz,2 個模擬通道和 16 個數(shù)字通道主要特性和功能1 GHz2 個模擬通道和 16 個數(shù)字通道8.5 英寸電容觸摸屏幕支持您輕松查看和分析信號獨有…
出售 Keithley 2461B 數(shù)字源表歐陽R:135//3722//9325Keithley2461B高電流 Keithley2461B 吉時利2461數(shù)字源表 產(chǎn)品特點:1000W,10A 脈沖,7A DC曲線分析儀和 I-V 特性分析系統(tǒng)100V / 10A 脈沖功率 1000W雙 1MS…
KLA-Tencor 7600光學檢測系統(tǒng)是一種用于半導體制造過程中的光學檢測工具。它基于先進的光學技術(shù),可以對半導體芯片表面進行非接觸式、高分辨率的檢測和分析,以確保產(chǎn)品質(zhì)量和工藝控制的精度。下面是KLA-Tencor 7600光學檢測系統(tǒng)的一些主要技術(shù)參數(shù)和特點:分辨率:KLA-Tencor 7…