E4991A 射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測量性能和功能強大的內(nèi)置分析功能。它將為元器件和電路設(shè)計人員測量 3 GHz 以內(nèi)的元器件提供創(chuàng)新功能,幫助他們進行研發(fā)工作。與反射測量技術(shù)不同,E4991A 使用射頻電流–電壓(RF-IV)技術(shù),可在廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更精確的阻抗測量結(jié)果?；咀杩咕仁?+/-0.8%。高 Q 精度有利于進行低功耗元器件分析。內(nèi)置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的掃描范圍和 1 mHz的分辨率。
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