D e k t a k X T是B r u k er公司推出的一款表面輪廓儀(Surface Pro filer)。它利用非接觸式技術(shù)測量樣品的表面形貌和粗糙度,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)、涂層、納米材料、微電子等領(lǐng)域。
以下是D e k t a k X T的主要特點和功能:
1.高精度測量:D e k t a k X T具有高度精確的測量能力,可測量細微的表面形貌變化和粗糙度。其分辨率可達納米級別,適用于對表面質(zhì)量要求較高的應(yīng)用。
2.非接觸式技術(shù):D e k t a k X T采用非接觸式掃描技術(shù),避免對樣品造成物理損傷。這種技術(shù)還能夠準(zhǔn)確測量不同材料的表面形貌,包括金屬、陶瓷、聚合物等
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