回收Agilent安捷倫N7788B光元器件分析儀
主要優(yōu)點(diǎn)
單次掃描的最高精度:無需對多次掃描進(jìn)行平均
測量速度快
在不到10秒的時間內(nèi)完成C / L波段的測量(無需等待很多平均值)
抗纖維運(yùn)動/振動和漂移的堅固性
描述
是德科技利用N7788BD組件分析儀推動了元件測量的極限。其專有技術(shù)可與眾所周知的Jones-Matrix-Eigenanalysis(JME)相媲美,后者是測量光學(xué)器件的偏振模色散(PMD)或差分群延遲(DGD)的標(biāo)準(zhǔn)方法。
是德科技的新型單掃描技術(shù)提供了一系列優(yōu)勢來測試一整套參數(shù):
DGD / PMD
PDL
電力流失
TE / TM-Loss
二階PMD
極化主要國家(PSPs)
瓊斯和穆勒矩陣
專為制造車間設(shè)計
高通量:在不到10秒的時間內(nèi)完成C和L波段的完整分析!
此貼長期有效，聯(lián)系我時，請說明是從處理網(wǎng)看到的。
