Advantes愛德萬Q8344A 光譜分析儀
附加功能:
350 納米至 1750 納米
邁克爾遜干涉儀類型測(cè)量
直接相干長(zhǎng)度測(cè)量
快速掃描
Advantest Q8344A 使用基于邁克爾遜干涉儀的傅立葉頻譜分析方法。因此,Q8344A 可以測(cè)量使用單色器進(jìn)行測(cè)量的衍射型光譜分析儀無法直接獲得的光學(xué)相干性。
Q8344A是一臺(tái)測(cè)試波長(zhǎng)范圍0.35 - 1.75 μm的光譜分析儀。由于它使用了傅立葉光譜系統(tǒng),并帶有麥克爾遜干涉儀,因此它能測(cè)量相干光。而這是采用單色光儀的色散光譜系統(tǒng)所不能達(dá)到的。這些特點(diǎn)使得Q8344A非常適合在諸如CD、VCD及其他領(lǐng)域中所使用的激光二極管等光學(xué)器件的測(cè)試。
內(nèi)置He-Ne激光器作為標(biāo)準(zhǔn)波長(zhǎng),從而達(dá)到了± 0.1 nm (1.3 μm)的波長(zhǎng)精度,在沒有波長(zhǎng)校正也能確保長(zhǎng)期的測(cè)試穩(wěn)定性。
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