轉(zhuǎn)讓日本日置IM7580阻抗分析儀

描述：

IM7580日本日置IM7580阻抗分析儀

日本日置IM7580阻抗分析儀

300MHz快、通過高速測量和高反復(fù)精度縮短工時、加速生產(chǎn)

測量頻率1MHz~300MHz

測量時間:0.5ms

基本精度±0.72%rdg.

緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小

豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定)

使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

HIOKI日置阻抗分析儀IM7580的特點:

1.最高300MHz的高頻測量

IM7580的測量頻率為1MHz~300MHz。在以單一頻率測量的LCR表的模式下,判斷出貨檢查時的合格與否,改變頻率的同時在測量的分析模式下可用于產(chǎn)品開發(fā)的特性評估等多種領(lǐng)域中。

2.最快0.5ms的高速測量或高穩(wěn)定性的測量,有助于提高生產(chǎn)效率

可進行最快0.5ms(0.0005秒)的高速測量。這樣,對于希望更快速的檢查大批量電子元器件的電子元器件廠家來說能夠大幅提高生產(chǎn)效率。

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