Hioki IM3536 LCR測試儀
測量頻率DC,4Hz~8MHz
測量時間:最快1ms
基本精度:±0.05% rdg
1mΩ以上的精度保證范圍,也可安心進(jìn)行低阻測量
可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測量
從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領(lǐng)域中
測量頻率4Hz~8MHz,精度保證范圍1mΩ和測量范圍擴(kuò)大
以往產(chǎn)品(3532-50)的測量帶寬為42Hz~5Mhz,而IM3536的帶寬擴(kuò)大到了4Hz~8MHz。因此,可以測量用于各種領(lǐng)域中的電子元件的特性。特別是,最高頻率8MHz適用于高頻化的電源用電感的測量。
而且,精度保證范圍比起以往產(chǎn)品10mΩ以上,IM3536的精度保證為1mΩ以上,因此也適用于有低頻化要求的電容等的測量。
和以往產(chǎn)品相比,實現(xiàn)高速、高精度測量
IM3536和以往產(chǎn)品相比改善了測量時間和基本精度。
比起以往產(chǎn)品的測量時間為5ms(0.005秒),IM3536是1ms(0.001秒),測量速度提高了4倍。因此,用于電子元件的產(chǎn)線中時,有助于提高產(chǎn)量。
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