Agilent N7788BD 光元器件分析儀 供應(yīng)
歐陽R:13537;;229325
Agilent N7788BD光元器件分析儀
主要特性與技術(shù)指標的
主要優(yōu)點
單次掃描的準確性 高:無需對多個掃描進行平均
測量速度高測量速度
只需不到10秒即可在C / L波段完成完整測量(無需等待多次平均)
堅固耐用的光纖運動/振動和漂移
描述
Keysight Technologies借助N7788BD組件分析儀突破了組件測量的困難限。它的專有技術(shù)可與 的Jones-Matrix-Eigenanalysis(JME)相媲美,后者是測量光學(xué)設(shè)備的偏振模色散(PMD)或差分群時延(DGD)的標準方法。
是德科技的新型單次掃描技術(shù)可提供一系列優(yōu)勢來測試整套參數(shù):
DGD / PMD
PDL
功率/損耗
TE / TM損耗
2階PMD偏振的
主偏振態(tài)(PSP)
Jones和Mueller矩陣
專為制造車間而設(shè)計
高通量:在10秒鐘內(nèi)即可完成對C和L波段的完整分析!
軟件驅(qū)動程序:一系列軟件驅(qū)動程序可用于系統(tǒng)的外部控制。這樣可以輕松集成到常見的ERP系統(tǒng)中。
此貼長期有效，聯(lián)系我時，請說明是從處理網(wǎng)看到的。
